IPS显示屏残影调试
一．残影发生原理
TFT-LCD又叫薄膜晶体管LCD，包括VA、IPS、FFS、TN等亚型，残影是其最常见的不良现象之一，其中又以IPS和FFS的残影问题最突出。IPS由于内部像素电极和公共电极横向分布，电场在面内是不均匀分布的，容易产生直流偏置，且CF膜没有像TN一样的氧化铟锡屏蔽层，有机层离子型杂质易进入液晶层的ITO薄膜，引起残留电荷干扰电场，因此相对比较容易出现残影。
二．残影调试记录
IPS残影现象是很难根除的，只能是改善，为了方便评价残影的改善效果，以ACCI产品某一界面的残影显示效果、多长时间出现残影以及残影多长时间消失来评判。由于残影实验所需时间很长，单次实验时长以小时计算，评判标准也带有很强的主观性，暂时没有量化的好方法，因此有些实验现象描述会有出入，评判难免不够客观，但大体方向上还是值得可信的。
